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本公司推出的改进的不含同位素放射源的DM2100型X荧光多元素分析仪已于2010年3月3日获国家发明专利权，专利号为：ZL200610025556.1。

该发明专利是本公司所获得的第一个发明专利，它的获得进一步证明了我公司科技水平已达到国内领先的程度，是国内同行中的领先者。

在此，我们尊重声明：任何单位和个人均不得仿冒生产该X荧光多元素分析仪，违者将追究其法律责任。目前，我们已发现有些企业仿冒本公司的产品并在进行销售，我们正告他们，必须停止对本公司的侵权行为，本公司将保留追诉的权力。

DM2100型X荧光多元素分析仪是在同档次中唯一得到广大用户认可的，能同时测量Al、Si、S、Ca、Fe的X荧光多元素分析仪。目前用户已达数近千家，均反映良好。

DM2100型X荧光多元素分析仪还获得全国首张辐射豁免证书，是真正的无任何辐射污染的绿色产品。

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20010年3月30日